Lucrarea reuneste intr-un singur volum o cantitate impresionanta de informatii privind fiabilitatea componentelor electronice: este analizat procesul de defectare al acestora si sunt evidentiate modurile si mecanismele de defectare aferente fiecarei categorii de componente. Volumul este intregit prin includerea unui glosar privind termenii de microelectronica si fiabilitate, a unui dictionar de fiabilitate bilingv (roman-englez si englez-roman), a unei liste de acronime, precum si a unei ample bibliografii.

OPINIA CITITORILOR